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MOS管知識(shí)-MOS管的導(dǎo)通過程和損耗分析詳解-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2020-10-16 

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MOS管知識(shí)-MOS管的導(dǎo)通過程和損耗分析詳解-KIA MOS管


1.MOS管的導(dǎo)通過程和損耗分析: MOS管導(dǎo)通過程

MOS管和三極管的特性曲線分別如圖1和圖2所示,它們各自區(qū)間的命名有所不同,其中MOS管的飽和區(qū)也稱為恒流區(qū)、放大區(qū)。其中一個(gè)主要的不同點(diǎn)在于MOS管有個(gè)可變電阻區(qū),而三極管則是飽和區(qū),沒有可變電阻區(qū)的說法。


從圖中也能明顯看出,MOS管在可變電阻區(qū)內(nèi),Vgs一定時(shí),Id和Vds近似為線性關(guān)系,不同Vgs值對應(yīng)不同的曲線斜率,即漏極D和源極S之間的電阻值Rds受控于Vgs;而三極管在飽和區(qū)內(nèi),不同Ib值的曲線都重合在一起,即曲線斜率相同,阻值相同。


MOS管的導(dǎo)通過程和損耗


MOS管的導(dǎo)通過程和損耗


MOS管導(dǎo)通過程中的各電壓電流曲線如圖3所示,其中Vgs曲線有著名(臭名昭著)的米勒平臺(tái),即Vgs在某段時(shí)間(t3-t2)內(nèi)保持不變。


MOS管的導(dǎo)通過程和損耗


我們知道MOS管是壓控器件,不同于三極管是流控器件,但是實(shí)際上MOS管在從關(guān)斷到導(dǎo)通的過程也是需要電流(電荷)的,原因是因?yàn)镸OS管各極之間存在寄生電容Cgd,Cgs和Cds,如圖4所示。


MOS管導(dǎo)通條件是Vgs電壓至少達(dá)到閾值電壓Vgs(th),其通過柵極電荷對Cgs電容充電實(shí)現(xiàn),當(dāng)MOS管完全導(dǎo)通后就不需要提供電流了,即壓控的意思。


這三個(gè)寄生電容參數(shù)值在MOS管的規(guī)格書中一般是以Ciss,Coss和Crss形式給出,其對應(yīng)關(guān)系為:Cgd=Crss;Cds=Coss-Crss;Cgs=Ciss-Crss。


MOS管的導(dǎo)通過程和損耗


2.MOS管的導(dǎo)通過程和損耗分析: MOS管損耗

MOS管損耗主要有開關(guān)損耗(開通損耗和關(guān)斷損耗,關(guān)注參數(shù)Cgd(Crss))、柵極驅(qū)動(dòng)損耗(關(guān)注參數(shù)Qg)和導(dǎo)通損耗(關(guān)注參數(shù)Rds(on))等。以如圖10所示的同步BUCK拓?fù)錇槔M(jìn)行說明,由于高側(cè)的開關(guān)管Q1和低側(cè)的同步管Q2組成一個(gè)半橋結(jié)構(gòu),為了防止兩個(gè)MOS管同時(shí)導(dǎo)通而使輸入回路短路,因此兩個(gè)MOS管的驅(qū)動(dòng)信號(hào)會(huì)存在一個(gè)死區(qū)時(shí)間,即兩個(gè)MOS管都關(guān)斷。


在死區(qū)時(shí)間內(nèi),由于電感的電流不能突變,因此同步管Q2的寄生體二極管將率先導(dǎo)通進(jìn)行續(xù)流。正是由于體二極管導(dǎo)通后,同步管Q2才被驅(qū)動(dòng)導(dǎo)通,在忽略二極管壓降的情況下,同步管Q2導(dǎo)通時(shí)兩端電壓為0,可以看作是0電壓導(dǎo)通;同步管Q2導(dǎo)通后,其兩端電壓為0直至關(guān)斷,因此也是0電壓關(guān)斷。


因此,同步管Q2基本沒有開關(guān)損耗,這意味著對于同步管的選取,功耗主要取決于與導(dǎo)通電阻RDS(on)相關(guān)的導(dǎo)通損耗,而開關(guān)損耗可以忽略不計(jì),因此不必考慮柵極電荷Qg。而高側(cè)的開關(guān)管Q1由于開通和關(guān)閉時(shí)都不是0電壓,因此要基于導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗綜合來考慮。


MOS管的導(dǎo)通過程和損耗


所謂開關(guān)損耗是指MOS管在開通和關(guān)斷過程中,電壓和電流不為0,存在功率損耗。由前述MOS管導(dǎo)通過程可知,開關(guān)損耗主要集中在t1~t3時(shí)間段內(nèi)。而米勒平臺(tái)時(shí)間和MOS管寄生電容Crss成正比,其在MOS管的開關(guān)損耗中所占比例最大,因此米勒電容Crss及所對應(yīng)的Qgd在MOS管的開關(guān)損耗中起主導(dǎo)作用。


因此對于MOS管的選型,不僅需要考慮柵極電荷Qg和柵極電阻Rg,也需要同時(shí)考慮Crss(Cgd)的大小,其同時(shí)也會(huì)在規(guī)格書的上升時(shí)間tr和下降時(shí)間tf參數(shù)上有間接反映,MOS管的關(guān)鍵參數(shù)如圖11所示。


MOS管的導(dǎo)通過程和損耗


MOS管的各種損耗可以通過以下公式近似估算:


MOS管的導(dǎo)通過程和損耗


系數(shù)0.5是因?yàn)閷OS管導(dǎo)通曲線看成是近似線性,折算成面積功率,系數(shù)就是0.5;Vin是輸入電壓,Io是輸出電流;tr和tf是MOS管的上升時(shí)間和下降時(shí)間,分別指的是漏源電壓從90%下降到10%和漏源電壓從10%上升到90%的時(shí)間,可以近似看作米勒平臺(tái)的持續(xù)時(shí)間,即圖3中的(t3-t2)。另外,規(guī)格書中的td(on)和td(off)可以近似看作是Vgs電壓從0開始上升到米勒平臺(tái)電壓的時(shí)間,即圖3中的t2。



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