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MOS管的轉(zhuǎn)移特性曲線、輸出特性曲線-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2023-05-06 

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MOS管的轉(zhuǎn)移特性曲線、輸出特性曲線-KIA MOS管


以某型號器件為例,通過分析其曲線,來分析MOS管的工作特性。

一、轉(zhuǎn)移特性曲線(VGS-ID曲線)

MOS管 特性曲線

說明的是柵極電壓VGS對ID的控制作用。


從上圖曲線可得到:

1、測試條件:VDS=20V;

2、VGS的開啟電壓VGS(th),約5V,且隨著溫度的升高而降低;

3、VGS需要達到10V以上,才能完全導通,達到其最大標稱ID;

4、VGS越大,ID才能越大,溫度越高,ID越?。?/span>


二、輸出特性曲線(VDS-ID曲線)

MOS管 特性曲線


上圖可被分為四部分:

1、夾斷區(qū)(截止區(qū))

此區(qū)域內(nèi),VGS未達到VGS(th),MOS管不導通,即ID基本為零;


2、可變電阻區(qū)

此區(qū)域內(nèi),ID-VDS基本維持線性比例關(guān)系,斜率即為MOSFET的導通電子Rds(on)。


3、飽和區(qū)

此區(qū)域內(nèi),ID不再隨著VDS的增大而增大。說明ID已經(jīng)飽和了。


4、擊穿區(qū)

此區(qū)域內(nèi),因VDS過大,MOSFET被擊穿損壞。


當MOSFET工作在開關(guān)狀態(tài)時,隨著VGS的通/斷,MOSFET是在截止區(qū)和可變電阻區(qū)來回切換的,在切換過程中可能會經(jīng)過飽和區(qū)。


當MOSFET工作于飽和區(qū)時,可以用來通過控制VGS的電壓來控制電流ID,將MOSFET用于實現(xiàn)上電軟起動電路。



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