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如何抑制溝道效應(yīng),抑制溝道效應(yīng)的方法-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2024-12-16 

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如何抑制溝道效應(yīng),抑制溝道效應(yīng)的方法-KIA MOS管


溝道效應(yīng)

溝道效應(yīng)是指在晶體材料中,注入的離子沿著晶體原子排列較為稀疏的方向穿透得比預(yù)期更深的現(xiàn)象。

抑制溝道效應(yīng)

對(duì)晶圓進(jìn)行離子注入時(shí),當(dāng)注入離子的方向與晶圓的某個(gè)晶向平行時(shí),其運(yùn)動(dòng)軌跡將不再是無規(guī)則的碰撞,而是將沿溝道(原子之間的縫隙)運(yùn)動(dòng)并且很少受到原子核的碰撞,因此來自注入的離子的阻力作用要小得多,注入離子的能量損失率很低。


在其他條件相同的情況下,很難控制注入離子的濃度分布,注入深度比正常注入更深,并使注入離子的分布產(chǎn)生一個(gè)很長(zhǎng)的拖尾,注入縱向分布峰值不符合高斯分布。溝道效應(yīng)將使離子注入的可控性降低,甚至使得器件失效。


抑制溝道效應(yīng)的方法

在表面注入一層非晶材料:通過在硅片表面注入非晶材料,如SiO或Ge,形成一層非晶層,可以破壞表面晶體的排列,從而減少溝道效應(yīng)的發(fā)生。


表面添加一薄層氧化物:在硅片表面熱氧化一層氧化硅(SiO),由于氧化硅的晶格結(jié)構(gòu)與硅不同,可以在離子注入過程中打亂離子注入的方向,增加隨機(jī)性,從而減少溝道效應(yīng)。


破壞表面硅原子的排列(預(yù)先淺注入):通過預(yù)先淺注入Si、Ge、F、Ar等元素,使表面硅原子非晶化,破壞硅片表面的晶體結(jié)構(gòu),從而減少溝道效應(yīng)。


將晶圓傾斜一定的角度:在離子注入過程中,將晶圓傾斜一定的角度(如7°),可以使離子注入方向偏離溝道軸向,減少沿溝道運(yùn)動(dòng)的離子數(shù)量,從而抑制溝道效應(yīng)。


為什么離子注入需要7°角?

抑制溝道效應(yīng)

抑制溝道效應(yīng)

因?yàn)樽⑷敕较蚝途A有一定傾角后,注入離子與晶圓內(nèi)部的原子碰撞概率提高,而抑制了隧道效應(yīng)的產(chǎn)生。


為什么一定是7°傾角呢?如果傾角過大,帶膠注入時(shí),離子被光刻膠部分遮擋,形成較大的陰影區(qū),造成實(shí)際注入?yún)^(qū)域與設(shè)計(jì)區(qū)域有一定的偏差。


如果傾角過小,不能很好解決隧道效應(yīng),還易造成雙峰分布。所以,結(jié)合理論和經(jīng)驗(yàn),實(shí)際工藝過程中會(huì)選擇7°角作為離子注入入射角度。


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